Semestre: 2004-II |
Data de Apresentação: Não informada |
Hora da Apresentação: Não informada |
Sala: Não informada |
Acadêmico(a): Maurício Edgar Stivanello |
Título: Inspeção Industrial através de Visão Computacional |
Membros da Banca:
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Área de Concentração: Computação Gráfica |
Linha de Pesquisa: Tecnologias Aplicadas ao Desenvolvimento de Sistemas |
Curso: Ciência da Computação |
Nível: Graduação |
Palavras Chave: Segmentação; Descritores de Fourier; Redes Neurais Artificiais; Perceptron Multicamadas; Visão Computacional; Inspeção Automatizada. |
Keywords: Segmentation; Fourier Descriptors; Artificial Neural Networks; Multilayer Perceptron; Machine Vision. |
Link de Acesso para a Biblioteca: http://www.bc.furb.br/consulta/novaConsulta/recuperaMfn.php?CdMFN=286717 |
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